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HS3100覆层测厚仪
HS3100覆层测厚仪
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0361253386

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概 述:

  本仪器是一种便携式测量仪,可以快速、无损、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。配置不同的探头,适用于不同场合。是材料保护和生产控制必备仪器。

适用范围:

  HS系列覆层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)

主要功能:

可使用6种测头(F400F1F1/90°F10N1CN02)进行测量;
三种校准方法: 一点校准、二点校准、基本校准;
显示分辨率: 0.1μm(测量范围小于100μm
 1μ(测量范围大于100μm
 有两种工作方式:直接方式和成组方式
有两种测量方式:连续测量和单次测量
有两种关机方式:手动关机和自动关机
可设置限界:对限界外的测量值能自动报警,并可用直方图对一批测量值进行分析;
有删除功能:对粗大误差及错误设置可进行删除处理;
打印功能:可打印测量测量值、统计值、限界、直方图

测量范围:

1F400探头、N400探头:0400μm
2F1探头、F1/90探头、N1探头:01250μm
3F10探头:010000μm
4CN02探头:10-200μm(根据测量要求选用不同探头)

测量精度:

不同探头精度要求不同
1F400探头、N400探头:一点校准:(2%+0.7);二点校准:(1%+0.7)
2F1探头、F1/90探头、N1探头、CN02探头:一点校准:(2%+1);二点校准:(1%+1
3F10探头:一点校准:(2%+10);二点校准:(1%+10

使用温度:

040

外型尺寸:

150×80×30m

重 量:

250g

功能

HS2100F

HS2100N

HS3100

HS4100

测量原理

磁性

涡流

磁性/涡流

磁性/涡流

测量范围

标准配置探头(F1/N1)11250μm

测量精度

±2%H+1μm(零点校准)
±[(13)%H+1] μm(二点校准)

统计量

平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV)

存贮和统计

15个测量值

测量精度

±2%H+1μm(零点校准)
±[(13)%H+1] μm(二点校准)

零点校准

二点校准

删除功能

自动关机

蜂鸣声提示

测量方式

欠压指示

错误提示

标准配置

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